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ElektroPhysik測厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100

ElektroPhysik測厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100

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ElektroPhysik測厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100
校準(zhǔn)有五種不同的方法:
1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):推薦用于均勻表面上的測量,如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和沖擊度。
2.單點(diǎn)校準(zhǔn)(無需使用振動箔調(diào)零):如果允許誤差p為±(讀數(shù)的3%*加上探頭的常數(shù)誤差),則推薦使用。 (恒定探針的實(shí)例:F.1.6:1μm)。
3.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行校準(zhǔn)和校準(zhǔn)):如果預(yù)

ElektroPhysik測厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100的詳細(xì)資料:

ElektroPhysik測厚儀校準(zhǔn)程序-MINITEST 3100

 

(一)校準(zhǔn)有五種不同的方法:
1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):推薦用于均勻表面上的測量,如果物體與ElektroPhysik零板具有相同的材料,尺寸和沖擊度。
2.單點(diǎn)校準(zhǔn)(無需使用振動箔調(diào)零):如果允許誤差p為±(讀數(shù)的3%*加上探頭的常數(shù)誤差),則推薦使用。 (恒定探針的實(shí)例:F.1.6:1μm)。
3.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用校準(zhǔn)箔進(jìn)行校準(zhǔn)和校準(zhǔn)):如果預(yù)期的讀數(shù)將接近校準(zhǔn)值,則推薦探針的允許誤差為±(1%... 3%讀數(shù)*(根據(jù)探頭)加恒定探頭誤差)*參照實(shí)驗(yàn)室條件下提供的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。
4.兩點(diǎn)校準(zhǔn)(使用一組兩個(gè)校準(zhǔn)箔):

  •      a)推薦用于粗糙表面上的測量。
  •      b)如果要預(yù)期的厚度在兩個(gè)校準(zhǔn)箔的厚度之間,建議在光滑表面上進(jìn)行測量。

5.通過涂層(CTC)進(jìn)行校準(zhǔn):使用校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。如果測試樣品被涂覆并且沒有未涂覆的樣品可用于比較,則推薦使用。該方法適用于以下探針:F05,F(xiàn)1.6,F(xiàn)3和FN1.6(僅含鐵部件),F(xiàn)1.6 / 90,F(xiàn)2 / 90,F(xiàn)10,F(xiàn)20和F50。

(二)存儲校準(zhǔn)值
如果儀表為特定目的進(jìn)行校準(zhǔn),則校準(zhǔn)值將存儲在存儲器中,直到更改為止(參見4.1.8校準(zhǔn)值的穩(wěn)定性)。如果要對某個(gè)探頭進(jìn)行校準(zhǔn),只需進(jìn)行重新校準(zhǔn)即可。 這將自動刪除以前的校準(zhǔn)值,并保存新的校準(zhǔn)值以便立即使用。

校準(zhǔn)程序應(yīng)從頭開始重新啟動,如果

  • 讀取不正確
  • 輸入了不正確的命令
  • 儀表已關(guān)閉

(三)校準(zhǔn)示例
校準(zhǔn)是測量的zui重要的要求。 校準(zhǔn)樣品與產(chǎn)品樣品匹配越緊密,校準(zhǔn)越準(zhǔn)確,因此讀數(shù)越高。 例如,如果要在鋼瓶上測量產(chǎn)品,則質(zhì)量ST37(軟鋼),ø6 mm,未涂覆樣品的校準(zhǔn)必須在相同質(zhì)量的鋼制圓筒上進(jìn)行,直徑相同。
校準(zhǔn)樣品必須以下列方式對應(yīng)產(chǎn)品樣品:

  • 曲率半徑
  • 基材特性
  • 基板厚度
  • 測量面積大小
  • 進(jìn)行校準(zhǔn)的點(diǎn)

校準(zhǔn)樣品必須始終與產(chǎn)品本身的測量點(diǎn)相同,特別是在小零件的拐角和邊緣的情況下。 精準(zhǔn)臺在這里將是無價(jià)的。 有關(guān)詳細(xì)信息,請參閱技術(shù)數(shù)據(jù)。


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